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X-ray diffraction topography von Tanner, Brian K. 1947-
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Characterization of crystal growth defects by X-Ray methods [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Models, held Au...
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Characterization of crystal growth defects by X-Ray methods proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Models, held Aug...
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X-ray and neutron dynamical diffraction theory and applications, proceedings of a NATO ASI held in Erice, Italy, April 9-21, 1996
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