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    Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

    Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques von Sayil, Selahattin

    Veröffentlicht 2018
    DE-634
    DE-1046
    DE-Aug4
    DE-573
    DE-M347
    DE-92
    DE-898
    DE-859
    DE-860
    DE-861
    DE-863
    DE-862
    DE-523
    DE-91
    DE-706
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  2. 2
    Soft error mechanisms, modeling and mitigation

    Soft error mechanisms, modeling and mitigation von Sayil, Selahattin

    Veröffentlicht 2016
    DE-634
    DE-1043
    DE-1046
    DE-Aug4
    DE-573
    DE-92
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    DE-859
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  3. 3
    Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits

    Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits von Sayil, Selahattin

    Veröffentlicht 2022

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