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Immersion reflectometry of thin solid films
von
Ohlidal, I
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Navrátil, K.
Veröffentlicht 1983
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Spectroscopic methods for optical analysis of thin films
von
Ohlidal, I
.
,
Navrátil, K.
Veröffentlicht 1984
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3
Optical studies of rough surfaces and systems substrate, thin film with rough boundaries
von
Ohlidal, I
.
Veröffentlicht 1974
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