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    Ballistische Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen

    Ballistische Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen von Obernhuber, Sandra

    Veröffentlicht 2007
    kostenfrei
    Buch

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