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    Bestimmung der atomaren Struktur von reinen Halbleiteroberflächen, -grenzflächen und -epitaxieschichten mit Hilfe von Gesamtenergierechnungen auf der Basis der Methode der starken Bindung

    Bestimmung der atomaren Struktur von reinen Halbleiteroberflächen, -grenzflächen und -epitaxieschichten mit Hilfe von Gesamtenergierechnungen auf der Basis der Methode der starken... von Neugebauer, Jörg 1963-

    Veröffentlicht 1989
    Abschlussarbeit Buch

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    First-principles calculations for defects and impurities applications to III-nitrides von Van De Walle, Chris G., Neugebauer, Jörg 1963-

    Veröffentlicht 2004
    Buch

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