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    Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren

    Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren von Mahnkopf, Reinhard

    Veröffentlicht 1989
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    Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS- Feldeffekttransistoren von Mahnkopf, Reinhard

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    Erweiterte Chrakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransisto ren

    Erweiterte Chrakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransisto ren von Mahnkopf, Reinhard

    Veröffentlicht 1989
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