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Metal impurities in silicon- and germanium-based technologies origin, characterization, control and device impact von Claeys, Cor L. 1951-, Simoen, Eddy
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies Origin, Characterization, Control, and Device Impact von Claeys, Cor L. 1951-, Simoen, Eddy
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Random telegraph signals in semiconductor devices von Simoen, Eddy, Claeys, Cor L.
Veröffentlicht 2016Signatur: Wird geladen …URL des Erstveröffentlichers
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Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices von Claeys, Cor L. 1951-
Veröffentlicht 2002Signatur: Wird geladen …
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