Alfred Benninghoven

Alfred Benninghoven (* 8. Februar 1932 in Frankfurt am Main; † 22. Dezember 2017) war ein deutscher Physiker. Veröffentlicht in Wikipedia
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    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle

    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Benninghoven, Alfred, Wiedmann, Lothar

    Veröffentlicht 1978
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    Über das Verhalten von Alkalidämpfen im Höchstvakuum

    Über das Verhalten von Alkalidämpfen im Höchstvakuum von Benninghoven, Alfred

    Veröffentlicht 1961
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    Secondary ion mass spectrometry basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

    Secondary ion mass spectrometry basic concepts, instrumental aspects, applications and trends von Benninghoven, Alfred, Rüdenauer, Friedrich G., Werner, H. W.

    Veröffentlicht 1987
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    Secondary ion mass spectrometry basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

    Secondary ion mass spectrometry basic concepts, instrumental aspects, applications and trends von Benninghoven, Alfred, Rüdenauer, F. G., Werner, H. W.

    Veröffentlicht 1987
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    Ion Formation from Organic Solids Proceedings of the Second International Conference Münster, Fed. Rep. of Germany September 7–9, 1982

    Ion Formation from Organic Solids Proceedings of the Second International Conference Münster, Fed. Rep. of Germany September 7–9, 1982 von Benninghoven, Alfred

    Veröffentlicht 1983

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    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle

    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Benninghoven, Alfred

    Veröffentlicht 1978
    DE-860
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    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle

    Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Benninghoven, Alfred, Wiedmann, Lothar

    Veröffentlicht 1978
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  8. 8
    Secondary ion mass spectrometry proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS VII), Monterey, California, USA, September 3 - 8, 1989

    Secondary ion mass spectrometry proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS VII), Monterey, California, USA, September 3 - 8, 1989

    Veröffentlicht 1990
    Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
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  9. 9
    Secondary ion mass spectrometry SIMS V ; proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985

    Secondary ion mass spectrometry SIMS V ; proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985

    Veröffentlicht 1986
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  10. 10
    Secondary ion mass spectrometry SIMS II ; proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Stanford, California, USA, August 27 - 31, 1979

    Secondary ion mass spectrometry SIMS II ; proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Stanford, California...

    Veröffentlicht 1979
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    Tagungsbericht Buch

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  11. 11
    Secondary ion mass spectrometry SIMS IV ; proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13 - 19, 1983

    Secondary ion mass spectrometry SIMS IV ; proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13 - 19, 1983

    Veröffentlicht 1984
    Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
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  12. 12
    Secondary ion mass spectrometry SIMS III ; proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30 - September 5, 1981

    Secondary ion mass spectrometry SIMS III ; proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30 - September 5, 1981

    Veröffentlicht 1982
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    Secondary ion mass spectrometry SIMS VIII ; proceedings of the eighth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, International Congress Centre RAI, Amsterdam, The Netherlands, September 15-20th, 1991

    Secondary ion mass spectrometry SIMS VIII ; proceedings of the eighth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, International Congress Centre RAI, Amsterdam, The...

    Veröffentlicht 1992
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  14. 14
    Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS VII proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VII), Hyatt Regency Hotel, Monterey, California, USA, September 3rd-8th, 1989

    Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS VII proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS VII), Hyatt Regency Hotel, Monterey, Californi...

    Veröffentlicht 1990
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  15. 15
    Secondary ion mass spectrometry proceedings of the Sixth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS VI), Versailles, Paris, France, September 13 - 18th, 1987

    Secondary ion mass spectrometry proceedings of the Sixth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS VI), Versailles, Paris, France, September 13 - 18th, 1987

    Veröffentlicht 1988
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  16. 16
    Ion formation from organic solids mass spectrometry of involatile material ; proceedings of the 3. international conference, Münster, Federal Republic of Germany, September 16 - 18, 1985

    Ion formation from organic solids mass spectrometry of involatile material ; proceedings of the 3. international conference, Münster, Federal Republic of Germany, September 16 - 18...

    Veröffentlicht 1986
    Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
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    Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III Proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30-September 5, 1981

    Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III Proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30-September 5, 1981

    Veröffentlicht 1982
    Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred …”
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  18. 18
    Secondary ion mass spectrometry SIMS II Proceedings of the second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Ca., USA, August 27-31, 1979

    Secondary ion mass spectrometry SIMS II Proceedings of the second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Ca., USA, August 27-31...

    Veröffentlicht 1979
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    Ion formation from organic solids IFOS III ; mass spectrometry of involatile material ; proceedings of the 3. International Conference, Münster, Fed. Republic of Germany, September 16 - 18, 1985

    Ion formation from organic solids IFOS III ; mass spectrometry of involatile material ; proceedings of the 3. International Conference, Münster, Fed. Republic of Germany, September...

    Veröffentlicht 1986
    Weitere Verfasser: “… Benninghoven, Alfred 1932- …”
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